2020年04月30日

論文掲載

卒業生の島田華奈さんの論文がJournal of Applied Physicsに掲載されました(浅田幹太君、淀美香子さんが共著者です)。タイトルは、”Raman scattering microscopy imaging of basal plane stacking faults and associated partial dislocations in 4H-SiC crystals”です。この論文は、Journal of Applied PhysicsのFeatured Articleに選出されました!

https://doi.org/10.1063/5.0007219

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